中部シンクロトロン光利用施設(仮称)
当初整備ビームライン
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ビーム ライン名 |
測定手法 |
光エネルギー範囲 (波長範囲) |
ビーム サイズ |
分解能(E/DE) |
光子数 個/sec |
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硬X線XAFS |
5〜20 keV (0.25〜0.06 nm) |
0.40 mm× 0.14 mm |
7000@12keV |
1×1011 |
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軟X線XAFS |
0.85〜6 keV (1.5〜0.2 nm) |
0.6 mm× 0.2 mm |
>2000@3keV |
7×1010 |
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真空紫外分光軟X線XAFS 光電子分光 |
30〜850 eV (40〜1.5 nm) |
<0.04 mm× 0.1 mm |
>5000@200eV |
1×1012 |
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小角散乱 |
8.2 keV (0.15 nm) |
0.67 mm× 0.14 mm |
2000@8.2keV |
7.7×1010 |
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X線回折 |
5〜20 keV (0.25〜0.06 nm) |
0.40 mm× 0.14 mm |
7000@12keV |
1×1011 |
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X線反射率 蛍光分析 |
5〜20 keV (0.25〜0.06 nm) |
0.42 mm× 0.14 mm |
2000@12keV |
1×1011 |